探测灵敏度的高低直接影响能检出的最小缺陷的大小。探测灵敏度越高，所能检出的最小缺陷就越小，漏检的概率也就越小。但是，灵敏度越高，显示屏出现的干扰杂波就越多，给缺陷伤波的正确判定带来很大的困难。因此，轮对探伤时，探测灵敏度不宜调得过高，应以能发现质量验收标准中规定的要求检出最小缺陷为准。
轮对探伤主要是对轮座镶入部位、未退卸轴承的轴颈卸荷槽部位进行检测并对全轴进行穿透检查（检查车轴的透声性能及发现大裂纹）。为避免漏检，扫检时必须保证轮对的整个检查区有足够的声束覆盖，且缺陷回波能充分地被探头接收，并在荧光屏上有明显的显示。
影响扫查的因素有扫查方式、扫查速度及扫检查程中对探头的压力。探伤时，必须严格按照《规程》要求的方式进行扫查，保证轮对的整个检查区有足够的声束覆盖，尤其是探头的方向，因为探头放置方向的改变将导致入射波方向的改变而使缺陷检出的灵敏度发生变化；扫查速度一般为20mm/s~50mm/s，以保证缺陷回波能充分地被探头接收，并清晰地显示在荧光屏上，扫查过程中应给探头以适当和一致的压力（指直接接触法探伤），否则耦合液厚度会发生变化，使检测灵敏度不稳定（给探头的压力一般为1.96N~4.9N）。
